Enmarcada no ciclo 'Investigadoras de prestixio' do CiTIUS
As extraordinarias capacidades dos chips que impulsan os sistemas electrónicos que forman parte da nosa vida cotiá son a consecuencia das prestacións dos dispositivos cos que se fabricaron, cuxas dimensións se sitúan no rango nanométrico. Agora ben, estes dispositivos adoecen dunha elevada variabilidade, o que impacta negativamente á fiabilidade dos chips en que se integran.
Nesta charla presentaranse os retos actuais aos que a nanoelectrónica se enfronta para a caracterización, modelado e simulación desta variabilidade, desde dous puntos de vista complementarios.Por unha banda, a mitigación dos efectos desta variabilidade, necesaria para asegurar a fiabilidade dos chips e, por outra, a súa explotación en aplicacións de seguridade, para a xeración hardware de claves criptográficas. Presentaranse algúns exemplos de metodoloxías para a mitigación ou explotación desta variabilidade.
Biografía
Montserrat Nafría é catedrática no Departamento de Enxeñaría Electrónica da Universidade Autónoma de Barcelona. A súa principal área de investigación é a fiabilidade de dispositivos e circuítos electrónicos. Actualmente, traballa na caracterización e modelado da variabilidade dependente do tempo de dispositivos CMOS de nodos tecnolóxicos avanzados, para o desenvolvemento de simuladores de fiabilidade de circuítos integrados.
A súa experiencia estase estendendo a outras tecnoloxías emerxentes, como os memristores para aplicacións neuromórficas, dispositivos baseados en grafeno e transistores de capa delgada para electrónica flexible. É autora ou coautora de máis de 400 artigos de investigación en revistas e conferencias científicas e formou parte dos comités técnicos das principais conferencias nos campos da fiabilidade e os dispositivos, como IRPS, INFOS e ESSDERC.